국립전파연구원, 안테나측정기술 국제특허출원

국립전파연구원(원장 이동형)은 새로운 안테나 측정기술을 개발하여 국내 방법특허 출원 후 국제특허협력조약(PCT)에 따라 대한민국 특허청에 국제특허출원을 했다고 밝혔다.

※ 특허협력조약(Patent Cooperation Treaty; PCT)에 의한 국제출원은 출원인이 자국 특허청(수리관청)에 특허를 받고자 하는 국가를 지정하여 PCT 국제출원서를 제출하면 각 지정국에서 정규의 국내출원으로 인정해 주는 제도이다.

안테나는 스마트폰 등 무선기기에 장착되어 통신이 가능하도록 전파가 드나드는 관문으로서 필수 부품이다. 그것의 성능 확인을 위하여 그림의 좌측과 같이 3개의 안테나를 사용하여 비교․보정하는 간접방식이 지금까지의 측정기술이었다.

그러나 이번 국립전파연구원의 출원은 표준안테나가 전파의 세기를 수치화할 수 있는 성질을 응용하여 2개의 안테나만을 이용하는 직접방식(우측 그림)이라고 했다. 기존의 방식이 70 여년간 지속되어 왔다는 점을 감안한다면 획기적이라 할 수 있다.

이 기술은 절차면에서 간소하기 때문에 측정 수용 능력이 1.5배 이상 개선되어 안테나 시험소에서 연간 1,000여건 처리능력을 1,500여건 이상으로 증대할 수 있어 라이프 사이클이 짧은 정보통신산업의 변화에 좀 더 빨리 대처할 수 있고, 또한 시험소의 설비부담도 크게 줄어드는 효과를 볼 수 있다고 했다. 

특히, 토지나 건물 등 야외에 고정 설치된 안테나의 경우 기존의 기술로는 측정 할 수가 없었으나 새로운 방법을 적용함으로써 그 난점을 극복할 수 있는 길을 열었다고 한다.

이번 특허출원 기술은 공학분야에 가장 저명한 국제 학술단체인 미국의 전기전자학회(IEEE)에 2011년 8월에 발표해 검증을 마쳤으며, “삼성과 애플의 특허 전쟁이 불거지면서 국제 특허의 중요성이 커지고 있는 시점에 나온 결과라 더 큰 의미가 있다”고 이동형 국립전파연구원장은 덧붙혔다.